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力學(xué)樣品臺(tái)的詳細(xì)介紹

更新時(shí)間:2021-04-19      點(diǎn)擊次數(shù):1773
  SEM力學(xué)樣品臺(tái)是在標(biāo)準(zhǔn)樣品臺(tái)的基礎(chǔ)上設(shè)計(jì)力學(xué)控制模塊和控制單元。該系統(tǒng)采用感應(yīng)微壓頭,在掃描電鏡內(nèi)可直接觀察納米機(jī)械測(cè)試,不僅可以對(duì)納米材料進(jìn)行機(jī)械擠壓的成像,而且同時(shí)可以獲取載荷-位移數(shù)據(jù)。

  在使用SEM力學(xué)樣品臺(tái)實(shí)驗(yàn)時(shí),用戶選擇Push-to-Pull模塊可實(shí)現(xiàn)樣品拉伸實(shí)驗(yàn),或者選擇加熱模塊可實(shí)現(xiàn)熱場(chǎng)和力場(chǎng)耦合實(shí)驗(yàn),加熱模塊可選搭載push-to-pull模塊的程序升溫方式(RT-1000℃,1K),或者選擇加電模塊(*大電壓±50V,電流范圍: pA~mA )。SEM力學(xué)樣品臺(tái)可以應(yīng)用的范圍有:

  1、材料力學(xué)研究
  
(1)力和位移瞬態(tài)效應(yīng)相關(guān)材料的研究

  (2)位錯(cuò)卒發(fā)研究

  (3)應(yīng)力下的晶相轉(zhuǎn)變研究

  (4)納米線、納米球的力學(xué)測(cè)試,剪切帶或者斷裂發(fā)生

  (5)材料失效分析

  2、材料力學(xué)測(cè)試
  
(1)壓痕測(cè)試

  (2)拉伸測(cè)試(配拉伸臺(tái))

  (3)納米壓痕測(cè)試

  (4)納米劃痕測(cè)試

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