氣體加熱樣品臺可用于電鏡樣品在不同的高溫條件下的結(jié)構(gòu)表征。模塊化設(shè)計避免了不同實驗之間的交叉污染，樣品制備簡單易行。主要在多相催化、納米材料合成、能源材料及金屬合金的腐蝕等研究領(lǐng)域中廣泛應(yīng)用。
TEM氣體加熱樣品臺是在原位樣品臺內(nèi)部構(gòu)建小型的氣氛納米實驗室，在氣體環(huán)境內(nèi)對材料進行原子分辨高時空精度分析。可以根據(jù)客戶需求結(jié)合MEMS微加工工藝內(nèi)置加熱模塊、光學(xué)模塊和偏壓模塊，通過微納芯片對單個納米結(jié)構(gòu)進行外場控制進行熱學(xué)、光學(xué)及電學(xué)性質(zhì)的測量，并可在物性測量的同時，動態(tài)、高分辨地對樣品的晶體結(jié)構(gòu)、化學(xué)組分、元素價態(tài)進行綜合表征。適用于多種氣體，Ar、N 、CO、O 、H 、CH 、CO 、He、空氣等。
TEM氣體加熱樣品臺主要功能有：
1、與主流TEM兼容，兼容STEM, SAED, EELS, EDS等功能；
2、超薄氮化硅膜視窗(可達10 nm)，氣體夾層薄(100-200 nm)，可達到電鏡自身分辨率；
3、圖像自動校正系統(tǒng)避免復(fù)雜的手動操作，便于捕獲樣品在反應(yīng)過程中的關(guān)鍵信息；
4、高精度、高頻控溫模式，具有實時溫度控制及測量功能；
5、升溫快、溫度場穩(wěn)定且均勻，升溫過程樣品幾乎無漂移。
